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MicOS显微光谱测量系统
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显微光致发光光谱仪
Flex One 显微光致发光光谱仪: 光致发光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光,在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光
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显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1
MicroTEQ-S1显微光谱测量系统,集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上,实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。
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FHT 762型宽能中子探测器
由美国LosAlamos国家实验室和San Jose大学等研发的能量范围从热中子到5 GeV的宽能中子探测器,符合H*(10) ICRP74,并在1996年获得了美国国家专利 (专利号
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【海洋光学】 显微光谱测量系统-MicroTEQ-A1
MicroTEQ-A1显微光谱测量系统,集成荧光、共焦拉曼测量功能*。通过把光谱测量模块集成到正置或倒置显微镜上,实现显微荧光、共焦拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、显微镜、光谱测试
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SENTERRA II共聚焦拉曼显微光谱仪
SENTERRA II 智能显微拉曼光谱仪使其光谱性能和用户友好度提升至新的高度。SENTERRA II 经专门设计,既拥有极佳灵敏度,又可实现高分辨率和尖端的成像性能。
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Unity BEX成像探测器
为什么BEX技术正在重新定义成像标准?Unity BEX成像系统提供了快速、准确、高分辨率的彩色成像技术解决方案。Unity探测器融背散射电子与X射线传感器于一体,整体位于极靴正下方。这种独特的设计
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Ultim Extreme 硅漂移探测器
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体
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牛津仪器 Symmetry EBSD探测器
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牛津仪器门控探测器Andor iStar
The innovative USB 3.0 iStar sCMOS boasts frame rates at least 50% faster than competing CCD
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