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微纳器件光谱响应度测试系统
IT曲线■ LBIC,Mapping■ 线性度测试■ 响应速率测试DSR300微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数:三维可调高稳定探针台结构,方便样品位置调节 测试功能曲线:
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芯硅谷 结构模型
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芯硅谷结构模型 M5028
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芯硅谷铜晶体结构模型
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德国纳博热带砖保温结构L/LT系列马弗炉
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微纳颗粒Winner2005A激光粒度仪
仪器简介: ◆Winner2005宽分布高性能激光粒度分析仪,适用于0.05-780微米的宽分布粉状物料粒度分布的测定,测试速度快、分辨率高、超声时间和搅拌速度可调、循环测试,配以颗粒分析
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