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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准
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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
产品描述TranSpec光谱仪结合光电技术与模拟/数字电子技术和计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的
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德国应用光谱TranSpec Lite白光干涉膜厚仪
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度测量
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德国应用光谱TranSpec Lite白光干涉膜厚仪
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度测量
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容易理解。与此相比,使用OES(发射光谱)和光纤耦合TranSpec光谱仪的有点是显而易见的。技术特征在200…1000nm光谱范围内可同时测量可检测非常底的
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德国应用光谱Plasma Emission Messurement System白光干涉膜厚仪
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德国徕卡 STELLARIS白光激光器
STELLARIS新一代白光激光器(WLL)与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合,使您可自由选择所有光谱,并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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