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THz 元器件
干涉仪)为干涉式太赫兹滤光器,可通过改变镜片间距来改变透过波长。配合宽带THz 源、高精度位移台,可构成THz 光谱仪。Tydex 厂家的可以提供该方案全套零部件,如透镜、干涉仪、探测器及带通滤光片等
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器 低噪音电子元器件
探测x及γ射线时必须保持在低温(77k)和真空中工作。 Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。 Ultim
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
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RadEye CD违禁品探测仪
新一代RadEye CDSystem便携式禁运品和辐射探测系统,可进行禁运品和辐射测量,应用于入境检查,功能强大,使用简单。包括一个RadEye SX,Nal(Tl)探测器,低活度Ba-133源和
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SMX-3100M X射线探测装置
【Clear Image】系统配合使用独立图像处理软件(ImageXpector-Pro)可获得没有变形、没有阴影的清晰图像。【Simple Operation】使用者均可轻松掌握的操作部使用方便的
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电子元器件筛选
广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备
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Symmetry 探测器EBSD系统牛津仪器 半导体器件综合分析
一代EBSD探测器,拥有空前的性能和易用性: 实时标定速度高达3000点/秒 相比传统CCD技术探测器速度提高30倍以上 为低束流和低电压分析提供了极高的灵敏度 百万像素高分辨率EBSD
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FHT 762型宽能中子探测器
由美国LosAlamos国家实验室和San Jose大学等研发的能量范围从热中子到5 GeV的宽能中子探测器,符合H*(10) ICRP74,并在1996年获得了美国国家专利 (专利号
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电子元器件失效分析
电⼦元器件失效分析 服务范围电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件
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