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冲击断口图像分析仪NCS DFAI
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NCS IFAI-I冲击断口图像分析仪
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NCS DFAI-III动态断口图像分析仪
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国仪量子SEM4000场发射扫描电镜 应用金属断口
场发射扫描电镜 (Field Emission Scanning Electron Microscopy ,FE-SEM)是一种高分辨率、高清晰度的电镜技术。SEM4000是一款分析型热场发射扫描
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电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 1000
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岛津/KRATOS X射线光电子能谱仪 AXIS Nova
XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器,完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务,尤其是对于表面凸凹不平的样品(典型的是粉末样品和断口样品),可以获得完美的分析结果
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra
XPS分析任务,尤其是对于表面凸凹不平的样品(典型的是粉末样品和断口样品),可以获得完美的分析结果。 Axis Supra采用专利的球镜半球能量分析器,获得超高空间分辨的二维光电子图像,亦即
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JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
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国仪量子 国产液晶面板分析型 场发射扫描电镜 SEM4000Pro
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国仪量子 国产功率器件测试专用 场发射扫描电镜 SEM4000Pro
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