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单面光学平晶
单面光学平晶尺寸介于直径½英寸至12英寸不等每个直径75mm或更大的λ/20平晶都带有校准证书具有标准金属反射镜镀膜:λ/10反射镜及λ/20反射镜通用规格涂层:Uncoated构造 :Single
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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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光学平晶(λ/20 @633nm)
光学平晶(λ/20 @633nm)平晶用于测量高光洁表面的平面度误差及研合性能,具有高精度的平面性。一般单独使用。我们提供基底为K9光学玻璃及紫外熔融石英的无镀膜的各种双面光学平晶,熔融石英适用于
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光学平晶(λ/10 @633nm)
光学平晶(λ/10 @633nm)平晶用于测量高光洁表面的平面度误差及研合性能,具有高精度的平面性。一般单独使用。我们提供基底为K9光学玻璃及紫外熔融石英的无镀膜的各种双面光学平晶,熔融石英适用于
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双面光学平晶反射镜
双面光学平晶反射镜Ø备有λ/10 及 λ/20 的表面平滑度供选择Ø经过Zygo干涉仪的认证Ø每个λ/20的平晶反射镜含有校准证书Ø另外也备有单面光学平晶反射镜我们的双面光学平晶反射镜经过精的磨光
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芯片半导体晶圆非接触式光学3D表面轮廓仪
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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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Camtek晶圆光学检测AOI
产品描述AOI,Automatic Optic Inspection的缩写,即自动光学检测,利用普通光线和激光配合电脑程序,对半导体制造中不同阶段进行平面性外观视觉检验,以代替人工目检的光学设备。
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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