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晶圆专用接触角测量仪
晶圆专用接触角测量仪(contact angle)是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线,此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ,是润湿程度的量度
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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晶圆接触角测量仪
analysis)方法测量样品表面亲疏水性、润湿性能、表面张力、表面能等数据的专用设备 晶圆专用接触角测量仪应用:1、液体在固体表面的接触角和润湿性:包括静态接触角,动态接触角(前进/后退接触角
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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FlexScribe Station 晶圆划片机
FlexScribe Station 晶圆划片机是一个上部组块划线器,快速、简单,可通过划线缩小尺寸。通过一个平台,它可以在不受形状或厚度限制的情况下,从200 mm的大样本到最小5 mm的样本进行
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晶圆几何形貌测量设备
WD4000晶圆几何形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。
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接触角测定光学接触角测量仪(水滴角测量仪)Theta Lite 可检测晶圆层面
百欧林光学接触角测量仪(水滴角测量仪)Theta Lite参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/480。完成晶圆层面,PCB的检测。可以用
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接触角测定光学接触角测量仪(水滴角测量仪) Theta Flow 可检测晶圆层面
百欧林接触角测定Theta Flow可以用在电子/半导体行业领域,用来检测晶圆层面,PCB,可完成电子行业中的接触角测量项目。符合多项行业标准https
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