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光栅及球面、非球面等光学元件 光栅
岛津光学,在高精度光学技术和半导体制造的沿用中,积累了丰富的精细加工和精密组装技术,不仅可提供光栅、球面/非球面镜、特殊镜片及偏光镜等各种光学元件外,还可提高分析检测、临床及图像打印的性能要求。
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高性能稀土材料比表面及孔径分析仪JW-BK200
高性能稀土材料比表面及孔径分析仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌
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制药及纯水分析高灵敏总有机碳分析仪UV HS
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BET比表面及孔结构测试
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高性能比表面积及微孔分析仪
高性能物理吸附仪属于研究级仪器,可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据,尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果,适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。
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高性能比表面积及微孔分析仪
高性能物理吸附仪属于研究级仪器,可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据,尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果,适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。
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比表面积及孔结构分布仪
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布; 微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 真密度测试
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BET比表面及孔结构测试仪
仪器简介:技术参数:及孔径分布测试、总孔体积和平均孔径测定;测试过程完全自动化,智能化, 测量范围: ≥0.01M2/g 至无规定上限,孔尺寸 2~ 200nm ; 样品数量:2
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电池材料专用高性能比表面及孔径测试仪JW-BK100
概述比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一, 常用、 可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK100系列高性能物理吸附仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析
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储能材料专用高性能比表面及孔径测试仪JW-BK200
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