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德国徕卡 LAS X ID Modules针对金相和材料分析的软件
LAS X 晶粒专家软件:拥有出众准确性和再现性的晶粒分析LAS X 晶粒专家模块所提供的成像环境允许用户快速分析钢和其他材料的
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微胶囊相变材料原位物理相态分析仪
在吸收或释放热量时改变其相态,从而维持恒定的温度,为建筑节能、电子设备冷却和个人热管理提供了创新的解决方案。 在材料科学和化学工程领域,对微胶囊相变材料的物理相态进行精确分析是至关重要的。随着技术的
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灰霾(PM2.5)化学成分分析系统
越来越大的压力。各种颗粒物污染(PM10、PM2.5、PM1.0)也将日趋严重。如何有效地对这些污染进行监测和研究将是一个越来越重要的课题,灰霾(PM2.5)化学成分分析系统将是不错的选择。
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SPM-9700HT用纳米物理检测软件
:1.通过测量特定位置的力曲线,可以检测样品吸附力和杨氏模量(点位分析)2.获取各点力曲线,检测平面物理性质分布(mapping)3.将获得的数据生成3D效果图,实现数据筛选与解析(3D分析)4.通过
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快速分析型物理吸附仪JW-DX-02
,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理
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安东帕DAVIS 5 用于记录、存储、可视化和分析测量数据的软件
Davis 5 会持续记录由 mPDS 5 二次表测定的所有特定传感器和特定产品数据。软件的现代界面设计非常直观,易于使用。
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001从我们多种 Thermo Scientific™ TRACE™ 1310 气相色谱分析系统中进行选择
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011从我们多种 Thermo Scientific™ TRACE™ 1310 气相色谱分析系统中进行选择
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011从我们多种 Thermo Scientific™ TRACE™ 1310 气相色谱分析系统中进行选择
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011从我们多种 Thermo Scientific™ TRACE™ 1310 气相色谱分析系统中进行选择
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