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精微高博基础型陶粒比表面分析仪BK基础型
精微高博基础型陶粒比表面分析仪BET 比表面积, Langmuir比表面积, 外表面积的测定, 样品孔容孔径、孔径分布的测定。测试范围0.0005 m2/g – 无上限(比表面积);0.35
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精微高博高通量比表面仪JW-BK400
比表面积测试仪 精微高博专注于比表面积测试仪的研发及销售,是国内外的知名品牌。并于2014年获得比表面积测试仪《国产好仪器》证书,客户的认可就是我们制造与研发比表面仪的动力
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北京精微高博JW-DX动态比表面测定仪
bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面
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比表面积积孔径分析仪
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精微高博比表面及孔径测试仪JW-BK200C
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精微高博JW-BK200系列双站比表面积分析仪
、页岩气、煤层气等;●其他材料:超细纤维、多孔织物、复合材料、土壤等。JW-BK200系列高性能双站比表面积及介孔孔径分析仪比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一,常用
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精微高博JW-BK200系列双站比表面积分析仪
、页岩气、煤层气等;●其他材料:超细纤维、多孔织物、复合材料、土壤等。JW-BK200系列高性能双站比表面积及介孔孔径分析仪比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一,常用
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精微高博JW-BK200系列双站比表面积分析仪
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化工品专用比表面测试仪BK112
的成果,2004年正式成立北京精微高博公司,专业致力于粉体材料比表面积、孔径、孔隙度分析仪器的研究与制造,公司有粉体材料研究专家,有仪器仪表行业专家,有技术熟练的售后服务专家,有以客户需求为导向的
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基础型比表面及孔径分析仪JW-BK112
精微高博科学技术有限公司(JWGB Sci & Tech Ltd.)成立于2004 年,是知名材料科学家钟家湘教授领衔创建的,是集研发、制造、销售、服务于一体的高新技术企业,专业从事比表面及孔径分析仪
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