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狭缝相机
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狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2
扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术,通过狭缝/ 小孔取样激光光束的一部分,将取样部分通过单点光电探测器测量强度,再通过扫描狭缝/ 小孔的位置,复原整个光斑的分布。扫描式光束分析仪的优点:• 取样
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狭缝焦点测量仪
狭缝焦点测量仪适用于X射线诊断机焦点的检测,采用狭缝成像的原理,采用CCD半导体探测器采集焦点的一维剂量分布,因而不需要繁琐的胶片处理程序,设备自动完成焦点尺寸测算。
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轮椅车越沟宽度测试台
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单面可调狭缝
仪器简介:缝宽连续可调0-2mm且狭缝可做角度调节技术参数:缝宽连续可调0-2mm且狭缝可做角度调节主要特点:缝宽连续可调0-2mm且狭缝可做角度调节
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赛默飞ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS
;· 灵敏度高:可使用赛默飞zei新的Jet接口技术,提供无与伦比的灵敏度;· 具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝,采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。
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赛默飞ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS
:线性范围达12个数量级,不同模式自动切换校正; · 灵敏度高:可使用赛默飞zei新的Jet接口技术,提供无与伦比的灵敏度; · 具有固定宽度的
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单面可调大狭缝
仪器简介:缝宽连续可变0-5mm,缝宽角度可调±2度,缝高80mm技术参数:缝宽连续可变0-5mm,缝宽角度可调±2度,缝高80mm主要特点:缝宽连续可变0-5mm,缝宽角度可调±2度,缝高
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高级紫外-可见分光光度计Specord 200.可变狭缝
双检测器-CDD技术;严格的实时双光束运行,大靶硅光电二极管检测器可进行样品的同步扫描和参比比,光谱通过Peltier池温控的检测器具有恒定的高信噪比,可变狭缝,快速扫描最快6000nm/分钟,全面
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪
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