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用于CMM三坐标测量仪上的粗糙度测量仪
用于CMM三坐标测量仪上的粗糙度测量仪 用于CMM三坐标测量仪上的粗糙度测量系统,mini粗糙度测量仪可适合各种形状的工件,特别适合在线测量。用于CMM的小型的粗糙度测量仪,可大幅度地降低测量
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Alicona高精度光学坐标测量仪μCMM
高精度光学坐标测量仪μCMM是奥地利Alicona公司研发生产的集样品尺寸特性,位置,形状和粗糙度测量功能于一体的全程高精度测量系统。高精度光学坐标测量仪μCMM的突出特点:. 极高精度测量公差非常
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CMM表面轮廓和粗糙度测量仪
CMM表面轮廓和的粗糙度测量仪 BMT微型形貌及粗糙度测量仪与CMM机械臂的结合为CMM增加了通用粗糙度测量仪的功能。 附加了CMM机械臂的微型形貌粗糙度
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长杆辐射测量仪
FH 40TG长杆辐射测量仪,可选配不同的探测器,满足不同领域的需求,可以更好的保护操作者的安全。? - 可使用多种不同的探测器 ? - 同时监测操作者剂量和剂量率 ? - 模块化设计,可快速更换
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Orion Star A BOD测量仪
仪器简介: Orion Star A精密型台式生物耗氧量BOD测量仪,适合于大批量样品DO/BOD精确快速测量。 膜电极法测量BOD是美国EPA组织和中国国标《水质 五日生化需氧量(BOD5)的
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Orion Dual Star 硬度测量仪
仪器简介:能简便、快捷、准确、经济地测量水溶液中的总钙离子和镁离子浓度,反映水硬度。技术参数:9332BNWP硬度半电池电极技术参数 电极型号 9332BNWP 测量范围 6 x
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Orion Star LogR pH测量仪
。仪器简介:新型Orion Star LogR 测量系列仪表采用独特的LogR 技术,配合专门的pH电极,通过电极膜电阻测量样品温度,提供了一种新的电极测量方法。测量仪将显示膜电阻值,用于电极故障判断
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Orion Dual Star 余氯测量仪
:Dual Star余氯测量仪 •双通道结构具备双BNC接口,双参比接口,双ATC接口,可同时接入两支离子选择性电极或pH电极,对样品中的离子浓度或pH同时测量,同时显示。 •可与余氯、氨氮、氟、钠
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gamma 剂量率测量仪
FHT 40 NBR γ剂量测量仪,选用双探测器(碘化钠和塑料闪烁体)设计和NBR专利技术,具有优良的能量响应和辐射响应性能,可用于甄别人工放射性。仪器性能: - 高性能主机,有
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安东帕MCR摩擦测量仪
可用于研究许多应用和样品,譬如润滑剂(润滑油、润滑脂)、材料及材料表面涂层(金属、聚合物、陶瓷)、设备部件(轴承等)。 定制解决方案 针对特殊的摩擦学应用,如果当前的附件无法满足要求
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