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晶体管测试仪系统
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晶体管参数测试仪系统
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晶体管静态直流参数测试仪系统
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天士立 晶体管动态参数测试系统 ST-AC1200
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天士立 晶体管动态特性测试系统 ST-AC1200
测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT) 输出能力:电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500
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多发射极晶体管刻蚀
仪器简介:型号683金属刻蚀 离子束刻蚀金相材料的制备 金相刻蚀仪提供一个离子束刻蚀是有多功能的PECS™系统的一种功能。其成本经济,价格适宜,且使用新一代仪器制备金相样品时
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Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
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微电极阵列MEA突触可塑性研究系统
特点: 1. 专用于神经元突触可塑性研究 2. 32通道MEA电信号记录和12个独立电刺激选择位点。 3. 专用的穿孔型MEA芯片,外接负压系统可确保脑片紧密贴附在电极上。 4. 前置放大器
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晶体管正向偏置安全工作区测试系统
FBSOA1000Forward Bias Safe Operating Area 1000A晶体管正向偏置安全工作区测试系统Transistor Forward Bias Safe
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突触可塑性PCR基因芯片Synaptic Plasticity PCR Array
突触可塑性PCR基因芯片可以同时检测学习和记忆过程中参与突触改变的84个关键基因的表达。对于回忆,大脑可以有两种方式记录以往事件:短期记忆和长期记忆
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