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晶体管测试仪系统
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晶体管参数测试仪系统
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晶体管静态直流参数测试仪系统
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天士立 晶体管动态参数测试系统 ST-AC1200
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天士立 晶体管动态特性测试系统 ST-AC1200
测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT) 输出能力:电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500
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安东帕NST³纳米划痕仪
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安东帕NHT³纳米压痕仪
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安东帕NST³纳米划痕仪
主要特点施加较小的载荷时具有极快的响应时间纳米划痕测试仪带有载荷传感器,采用双悬臂梁用于施加载荷,以及压电式驱动器用于对施加的载荷快速响应。这一设计理念还修正了在划痕过程中发生的任何事件(例如出现
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安东帕NHT³纳米压痕仪
主要特点最简单易用的纳米压痕测试仪最直观易用的软件:用简单的参数(最大载荷)、统计数据分析和保存的测试方案模板轻松开始测试适用于表面的不同放大倍数的多物镜视频显微镜最坚固耐用的纳米压痕测试仪:参比
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安东帕UNHT³超纳米压痕仪
主要特点用于低载荷测量的最佳的计量型纳米压痕测试仪表面参比系统上的真实力传感器确保可直接测量微牛级的力主动表面参比技术:独特的专利设计(欧洲专利 1828744 和美国专利 7,685,868)从低
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