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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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半导体晶圆PL光谱测试系统
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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A36双晶64晶片线性探头
在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出,将在大壁厚情形下,协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍,进而
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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硅晶圆检测仪SIT-200
密度,从而提高了测量的动态范围,因此,SIT-200 支持非抛光的晶圆测量,例如在湿刻过程中以及湿刻之后的晶圆。• 全光学,非接触式晶圆厚度传感• 高动态范围,可测量不规则表面• 支持湿刻制程中
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芯片半导体晶圆非接触式光学3D表面轮廓仪
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晶品赛思 JPG-2000 钢制智能试剂柜
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FlexScribe Station 晶圆划片机
划线。抄写各种各样的晶体和非晶材料。产品优势:1、用任何形状或厚度的不规则边缘划线样品;2、处理200 mm至5 mm范围内的晶圆和样品;3、使笔迹笔直、可重复;4、刻划玻璃、硅、III-V、蓝宝石和
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