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光学正面和背面光刻机OAI 800型
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芯硅谷 指甲清洁刷
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。与光学方法相比分辨率提高了 10倍,确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。
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芯硅谷 T6660 三通道计时器,具有三个独立显示板
三通道计时器三块独立液晶显示板显示计时1计时2计时3或时间、秒表,特大视窗,清晰宽屏显示,特大按鍵,操作方便、款式新颖实用,特别适合车间,实验室和户外活动等场所使用
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
测量。无须处理涂层背面我们的探头设计能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,使用更厚的镜头抑制的更多。就像我们所有的台式仪器一样,F10-AR 需要连接到您装有 Windows 计算机的
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