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泰勒霍普森 PGI Freeform 自由曲面测量仪
随着市场上自由曲面光学元件的兴起和对日益复杂测量解决方案需求的不断增长,英国泰勒霍普森公司研发生产出了可满足自由曲面测量要求的多用途、高分辨率接触式测量系统——Form Talysurf® PGI
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泰勒霍普森 PGI Freeform 自由曲面测量仪
随着市场上自由曲面光学元件的兴起和对日益复杂测量解决方案需求的不断增长,英国泰勒霍普森公司研发生产出了可满足自由曲面测量要求的多用途、高分辨率接触式测量系统——Form Talysurf® PGI
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自由曲面测量
德国马尔非球面/自由曲面测量系统,突破性实现在MFU200一台仪器上接触式和非接触式的完美结合光学和接触测量使用MarForm MFU 200 Aspheric 3D能够进行表面的光学和接触测量
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安东帕RST³大载荷划痕仪 曲面和粗糙表面 的测量
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 固体电运动分析仪/ 固体表面ZETA 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 技术参数: 测量范围
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Multy多参数水质分析仪
技术参数:Spectroquant® Multy 多参数比色计 标准配置: 主机、便携箱、16mm圆形比色管适配器、适配器盖子、 7节可充电镍铬电池、电脑连接线、3个16mm圆形比色管、 3个
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Multy多参数水质分析仪
技术参数:Spectroquant® Multy 多参数比色计 标准配置: 主机、便携箱、16mm圆形比色管适配器、适配器盖子、 7节可充电镍铬电池、电脑连接线、3个16mm圆形比色管、 3个
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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安东帕MST³微米划痕仪 曲面上测量
可进行测试由于采用了独特的力传感器控制技术,微米划痕系统可检测载荷偏差,并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。多种划痕测试功能具有多个测试模式渐近的
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全新COD 单参数分析仪
%测量波长: 605 nm注释:COD测试需要消解炉对样品进行消解 测试时间:3 – 4秒主要特点:Merck公司的Spectroquant® Picco COD单参数比色计为低价高性能的
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