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薄膜太阳能电池膜厚仪
disk...技术参数:波长范围:350~ 840 nm 膜厚范围:10nm~30um 测试速度: < 1秒/点 参数分析:厚度,R,N,K,表面粗糙。 主要特点:— 一台仪器上可增加多种检测头,如
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪
的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在
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日本KETT 膜厚计 LZ-990
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