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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。与光学方法相比分辨率提高了 10倍,确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。
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赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
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赛默飞iCAP RQplus电感耦合等离子体质谱仪 半导体工业
ICP-MS分析被称为超痕量、多元素分析的最佳技术,可覆盖周期表中70多种金属和非金属元素的分析,目前已被广泛地应用于地球科学、环境科学、生命科学、材料科学、半导体工业以及公安侦探等领域。在食品环境
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AC500量热仪
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IA44图像分析管理系统
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ON736氧氮分析仪
ON736氧氮分析仪采用惰性气体保护熔融法,提供各种无机材料、钢铁、有色金属、硬质合金、难熔金属、陶瓷等材料中宽范围的氧氮同时分析。
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SS1000磨抛机
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TruMac有机元素分析仪、氮/蛋白质测定仪
使用TruMac 氮测定仪可以容易处理一些异质,难前处理,低均匀度的样品分析。大试样尺寸(氮分析可达3克)可以实现低成本快速分析。
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GPX系列研磨抛光机
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Pegasus GC-HRT 4D+全二维气相色谱-高分辨高通量飞行时间质谱
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