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Scios DualBeam 电子显微镜
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府
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Tecnai™ 透射电子显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界
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Talos透射电子显微镜
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品,致力于让用户迅速访问二维和三维数据,从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究,是一款融合了众多创新技术的
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“Quanta 系列”环境电子显微镜
技术参数:1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm
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Helios DualBeam™扫描电子显微镜
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Themis透射电子显微镜
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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120kV透射电子显微镜
仪器简介:Tecnai G2透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G2运行在Windows XP的操作系统下,提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境
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Titan Krios G2透射电子显微镜
Titan Krios™ G2透射电子显微镜(TEM)专门用于蛋白质和细胞的成像。采用革命性的冷冻技术,具有很高的稳定性,可用于各种半自动化应用,包括:单颗粒分析、双轴细胞电子断层成像、冷冻电子显微镜
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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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