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透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
和等离子体清洗。 与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时
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Spectra Ultra S/TEM透射电镜
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氮化硅薄膜窗口/窗格
RISUN氮化硅薄膜窗口---X射线透射显微成像/能谱(同步辐射)用 产品介绍: 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成,由于
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赛默飞200 kV透射电镜Spectra 200 TEM
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
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氧化硅薄膜窗口 石墨烯TEM耗材
TEM氮化硅/氧化硅薄膜窗口---TEM观察石墨烯的首选耗材 优点: • 低应力的8, 15 , 50nm厚的氮化硅支撑膜:50nm厚的薄膜具有zei大的视野范围;8nm和
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德国徕卡 单颗粒投入冷冻仪 EM GP2
,用滤纸吸去多余液体,将载网插入到冷冻剂(如液态乙烷)中,样品被快速冷冻固定,在碳膜微孔上形成玻璃化冰层薄膜。冷冻含水样品随后进入冷冻透射电镜进行观察,通过三维重构技术,最终得到生物大分子的三维结构
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赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电镜
Thermo Scientific Talos F200C(S)TEM是20-200 kV热场(扫描)透射电子显微镜,专为细胞、细胞器、石棉、聚合物和软材料等在环境温度和低温下的二维和三维成像而设计。
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赛默飞(原FEI)Talos F200X S/TEM 透射电镜
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