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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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A36双晶64晶片线性探头
在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出,将在大壁厚情形下,协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍,进而
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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微波消解UItraClave迈尔斯通 可检测锂辉石/锂云母/透锂长石
迈尔斯通UltraCLAVE超级微波化学平台UItraClave适用于锂电池项目,参考多项行业标准。可以检测石墨、锂辉石/锂云母/透锂长石等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 实现了超高温度和
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REVO微波消解--微波消解仪 可检测锂辉石/锂云母/透锂长石
莱伯泰科--微波消解仪REVO可以用在电子/半导体行业领域,用来检测石墨、锂辉石/锂云母/透锂长石,可完成锂电池项目。符合多项行业标准。 防爆能力良好,一体铸造成型的微波腔体,全不锈钢材质安全门
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绝缘高枝剪生产厂家
产品概述: 我司生产的高枝剪头为侧刀型,杆材质为玻璃钢环氧,杆长为3米、3.5米、4米、5米等。 产品作用: 1、主要修剪电线附近的树枝等,保障
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