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芯硅谷 数显测厚表
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚天瑞仪器 电镀行业综合
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
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浪声台式x荧光镀层测厚仪 涂层镍层测厚 ScopeX COAT1
测量镀层厚度为什么如此重要?测量镀层厚度可以帮您降低物料成本,响应重要的工业标准,并能维护您在行业中的声誉。无论是在生产过程中的检测还是对来料进行检验,都是如此。
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浪声晓INSIGHT 台式镀层测厚仪镀层分析仪 金属镀层快速测厚
专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可选配高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
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天瑞仪器 镀层测厚 EDX3600L X荧光光谱仪
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天瑞仪器 镀层测厚 X荧光考古分析仪 EDX8000L
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
Think600是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成
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天瑞仪器 金属镀层的厚度测量 X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
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