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陶粒绝对密度仪
型号JW-M100测试原理气体置换法测试项目真密度、真体积、固体材料的孔隙率测试范围0.0001g/mL 至 无限大分辨率0.0001g/mL测试效率每次测试仅需3min吸附质气体N2, He仓体配置
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动态法陶粒比表面分析仪JW-DX
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陶粒砂体积密度测试仪
单位堆积体积的支撑剂质量称为支撑剂体积密度;单位堆积体积的陶粒质量称为陶粒的体积密度,是包含陶粒本身、开口气孔和闭口气孔三部分的平均密度。单位是g/mL
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陶粒砂粉末体积密度仪
单位堆积体积的支撑剂质量称为支撑剂体积密度;单位堆积体积的陶粒质量称为陶粒的体积密度,是包含陶粒本身、开口气孔和闭口气孔三部分的平均密度。单位是g/mL
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高精密陶粒比表面分析仪JW-BK300系列
该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌,配备有“涡轮分子泵”和1000Torr、10Torr、1torr等不同量程的压力传感器,通过全模块化设计,配合微孔分析模型的准确应用,真正实现了微孔的精确分析
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精微高博基础型陶粒比表面分析仪BK基础型
精微高博基础型陶粒比表面分析仪BET 比表面积, Langmuir比表面积, 外表面积的测定, 样品孔容孔径、孔径分布的测定。测试范围0.0005 m2/g – 无上限(比表面积);0.35
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科研型陶粒专用比表面分析仪 JW-BK200C
该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌,配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,氮吸附微孔 小孔径实际可测达0.35nm
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精微高博比表面动态法陶粒比表面分析仪 可检测硅碳负极材料
精微高博动态法陶粒比表面分析仪JW-DX可用于测定硅碳负极材料,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 性能参数:仪器型号: JW-DX bet原理方法
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JW-BK300系列高精密陶粒比表面分析仪精微高博 应用于涂料
精微高博孔径分析仪JW-BK300系列用于测定白炭黑,符合行业标准GB/T 10722-2014。适用材料分析项目。 白炭黑是无定形二氧化硅。硅的4 价键性使其具有很强的空间成键能力,也使得无定形
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孔径分析仪精微高博高精密陶粒比表面分析仪 适用于材料分析
精微高博高精密陶粒比表面分析仪JW-BK300系列可以用在炭黑行业领域,用来检测白炭黑,可完成材料分析项目。符合多项行业标准GB/T 10722-2014。 白炭黑是无定形二氧化硅。硅的4 价键性
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