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非接触三维光学轮廓仪
10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.01nm。具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内最好的SPIP分析软件系统。众多先进技术的集成、经过
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三维非接触式光学轮廓仪
、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS、半导体材料、太阳能电池、膜厚、光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。技术参数
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非接触式光学三维轮廓仪
仪器简介:利用光位相干涉测试原理对测试样品进行3次元/2D检测,对样品非接触,非破坏性测试;可各种材料进行表面粗糙度,翘曲度,薄膜应力,厚度,高度,段差,宽度,体积,断面积,2D测定
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三维光学轮廓仪ContourSP
结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的
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三维光学轮廓仪NPFLEX
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芯片半导体晶圆非接触式光学3D表面轮廓仪
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白光干涉三维光学轮廓仪
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三维光学轮廓仪CONTEBGT-X
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计,这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全
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三维光学轮廓仪Contracx-100
Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能,在一个流线型封装,融合了几十年的专利布鲁克
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三维光学轮廓仪Contour Elite X
完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力,在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作
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