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BET比表面积仪
: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 微孔孔径分布测试: 氮分压10-7 - 10-1范围的等温吸附曲线测定
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比表面积测量仪
仪器简介:JW-004A两用型多功能仪器,技术参数:技术参数 原理方法:动态法测试、氮吸附BET法测试 功 能:直接对比法快速测定 Langmuir测定 碳黑外
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AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器
特点 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV 高计数率 >1,000,000 CPS 超高峰背比 - 26,000:1 Be window (0.5mil) 或可以配套
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比表面积积孔径分析仪
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容量法比表面积测试仪
产品介绍容量法比表面积测试仪,也称为静态法比表面积测试仪,吸附量由气体状态方程计算得到,是高精度比表面积测试的首选方法。V-Sorb 2800S由北京国仪精测技术有限公司自主研发,历经十余年技术沉淀
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比表面积及孔结构分布仪
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布; 微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 真密度测试
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动态色谱法比表面积仪
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全自动比表面积测试仪
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比表面积及孔径分析仪
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牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器
Ultim Max TLE是 牛津仪器TEM系列的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
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