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高蓬松度无纺织纤维厚度测量仪
T0022高蓬松度无纺织纤维厚度测量仪,此仪器用于测量高蓬松度无纺织纤维厚度并以数字显示读数。测试方法:在一定压力下,可动平行面板在垂直方向上的直线运动距离即为测定的厚度。厚度是无纺布的一个基本
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赛默飞 厚度直接测量仪
回报率高等特点。特征——厚度测量不受材料类型、颜色的影响。——非放射性,无需许可证——非接触式,不会在产品上留下划痕——片材温度60℃以下,无需仪表空气或水——快速安装,易于使用——可靠性高,维护方便
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浮法玻璃生产线在线厚度应力测量仪
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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F32 薄膜厚度测量仪
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘
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F20 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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F60-t 薄膜厚度测量仪
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