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第四场研讨会 | 如何结合等离子FIB刻蚀和激光烧蚀,更高效完成毫米级半导体失效分析
2021-03-24 00:00:00网络会议 -
第八场研讨会 | TESCAN CLARA镜筒内探测器实现超高分辨扫描电镜更高的差异化衬度需求
2021-04-21 00:00:00网络 -
第九场研讨会 | 生命科学领域3D FIB/SEM 数据采集和处理解决方案
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“第17期日本电子(JEOL)电子探针学习班”第一轮通知
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直播预告 | 基于SEM/EBSD的前沿应用分享(本期特邀大咖点睛
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2019上海国际细胞生物仪器暨显微成像展览会
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扫描电镜分析与应用培训班
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TESCAN 第三期线上高阶应用培训通知
2020-06-11 00:00:00网络培训 -
“SEM扫描电镜分析技术与应用”培训班
“电镜分析技术与应用”培训班的 通 知 各有关单位: 近年来电子显微领域的技术发展突飞猛进,硬件和软件的新技术和新功能不断的推出。扫描电镜越来越受到科研人员的重视,用途日益广泛...
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