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第四场研讨会 | 如何结合等离子FIB刻蚀和激光烧蚀,更高效完成毫米级半导体失效分析
2021-03-24 00:00:00网络会议 -
第七场研讨会 | 创新的FIB/SEM薄片提取解决方案,满足更高要求的TEM样品制备需求
2021-04-14 00:00:00网络 -
第九场研讨会 | 生命科学领域3D FIB/SEM 数据采集和处理解决方案
2021-04-28 00:00:00线上 -
第十一场研讨会 | 使用正切、反切和平面切割方式制备逻辑和存储器件的TEM薄片样品
2021-05-12 00:00:00线上 -
线上直播 | 氙离子FIB在半导体及其他领域的应用分享
2021-09-02 00:00:00线上 -
线上直播 | 更高效的工具来增加半导体失效分析任务中的通量和灵活性
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2010年度北京市电子显微学年会
前景。 9:00—9:20 刘凌玉,科扬。 电镜与FIB附件产品介绍...
2011-01-17 14:43:54北京 -
TESCAN 最新一代FIB-SEM DEMO演示和交流会
2019-10-16 00:00:00合肥 -
原位高温拉伸成像演示(16日14:30场
2019-10-16 00:00:00合肥 -
新一代通用型FIB-SEM演示(17日10点场)
2019-10-17 00:00:00合肥
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