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2024年电子显微元素分析仪器EDS/EBSD培训计划
开始2024-03-22 00:00:00上海,北京 -
2021佛山国际真空技术及设备展览会
2021-07-14 00:00:00佛山 -
第四场研讨会 | 如何结合等离子FIB刻蚀和激光烧蚀,更高效完成毫米级半导体失效分析
2021-03-24 00:00:00网络会议 -
第七场研讨会 | 创新的FIB/SEM薄片提取解决方案,满足更高要求的TEM样品制备需求
2021-04-14 00:00:00网络 -
第八场研讨会 | TESCAN CLARA镜筒内探测器实现超高分辨扫描电镜更高的差异化衬度需求
2021-04-21 00:00:00网络 -
第九场研讨会 | 生命科学领域3D FIB/SEM 数据采集和处理解决方案
2021-04-28 00:00:00线上 -
邀请函 | 拉曼图像-扫描电子显微镜联用技术论坛
2021-05-13 00:00:00上海 -
第十一场研讨会 | 使用正切、反切和平面切割方式制备逻辑和存储器件的TEM薄片样品
2021-05-12 00:00:00线上 -
“第17期日本电子(JEOL)电子探针学习班”第一轮通知
2021-07-05 00:00:00济南 -
线上直播 | 氙离子FIB在半导体及其他领域的应用分享
2021-09-02 00:00:00线上
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