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CPA225D赛多利斯天平 CPA225D天平
CPA225D赛多利斯天平 CPA225D天平 CPA225D·防静电涂层玻璃防风罩,有效屏蔽外界静电荷干扰·四级防震·超级单体传感器·内置校准砝码,全自动校准·由时间和温度触发的全自动校准和调准
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CPA225D电子分析天平
【简单介绍】CPA225D赛多利斯电子天平【详细说明】产品名称:CPA225D电子天平产品概述:新一代得到证实的赛多利斯能力系列实验室天平,赛多利斯 CP 系列 的可靠性在日常实验室操作过程中赢得了
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岛津天平 分析天平AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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德国Sartorius赛多利斯CPA225D天平
成功源于高超技术赛多利斯CPA系列电子天平全部采用Monolithic称重传感器。不但异常精确,而且极为坚固、可靠。另外,CPA拥有的更多技术优势,确保其即使连续操作,也能得到最高精度。内置电机驱动
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天平瑞士XP/XS系列精密/电子天平梅特勒托利多 可检测天平
的、可追溯的称量信息; GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作; *仅XP天平 技术参数: XP精密天平:量程210g~64100g,可读性
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天平梅特勒托利多XPR系列 适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能
梅特勒托利多瑞士分析天平XPR系列可用于测定 纺织原料 ,适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于纺织/印染行业领域。 在
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天平 分析天平AUX220 AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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赛多利斯CPA225D 半微量天平
产品简介:成功源于高超技术赛多利斯CPA系列电子天平全部采用Monolithic称重传感器。不但异常精确,而且极为坚固、可靠。另外,CPA拥有的更多技术优势,确保其即使连续操作,也能得到最高
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Sartorius赛多利斯CPA225D 分析天平
Sartorius赛多利斯CPA225D 分析天平,可读性 0.01 | 0.01 | 0.1 mg;量程 40 / 100 / 220 g;校准 内校,isoCAL新一代得到证实的赛多利斯能力
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梅特勒--CPA225D半微量天平
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