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EVOS M7000 3D数字共聚焦活细胞成像分析系统
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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EVOS M7000 3D数字共聚焦活细胞成像分析系统Invitrogen
邀请您了解Invitrogen EVOS M70003D数字共聚焦活细胞成像分析系统。该系统提供智能化、快速的自动化成像体验,适用于各类细胞成像研究。具备卓越性能,简化了严苛要求的细胞成像应用,包括活
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EVOS M7000 3D数字共聚焦活细胞成像分析系统Invitrogen
Invitrogen EVOS M70003D 数字共聚焦活细胞成像分析系统,为您的成像研究提供智能、快速的自动化成像体验。系统性能优越,使得复杂的细胞成像变得简单快捷,包括活细胞采集、实时监测分析
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域
卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域
卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值
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半导体器件参数测试仪系统
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牛津仪器半导体检测仪刻蚀和沉积设备 半导体制造
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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