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OSP薄膜测量仪
velocity : 50mm/s 主要特点: 非接触式,非破坏式 可测量亚微米光斑 实样监控 易操作界面 应用领域: 专用于测量PCB/PWB板的铜箔表面的OSP厚度。
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OSP薄膜测厚仪
主要特点: 非接触式,非破坏式 3D测量图像 可测量亚微米光斑 实样监控 易操作界面 应用领域: 主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜
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OSP薄膜测厚仪
ST4080-OSP(有机可焊性保护膜)专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪,它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料,使得实时检测无需任何的样品
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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F32 薄膜厚度测量仪
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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F20 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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F60-t 薄膜厚度测量仪
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术
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