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徕卡Leica stellaris-dls德国 数字光片显微镜 STELLARIS DLS
照明。STELLARIS5和STELLARIS8系统均可以集成我们的数字光片系统(DLS),也可以将其作为这两种系统的升级。这样,您就可以在一个系统中享受到完整的共聚焦功能和便捷的光片显微镜,从而可以
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安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列
Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器,您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子,从而缩短样品制备时间。
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德国徕卡 数字光片显微镜 STELLARIS DLS
将共聚焦与光片显微成像技术相结合,探索新应用领域数字光片显微镜 STELLARIS DLS——徕卡显微系统采用独特的设计方法,使您可以在一个系统中进行共聚焦和光片成像, 实现柔和的单平面照明
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激光共聚焦徕卡德国 数字光片显微镜 STELLARIS DLS
使用数字光片显微镜STELLARISDLS可以在一个系统中结合共聚焦和光片成像技术,实现柔和的单平面照明,并且可以用于更多样的研究。此外,DLS可以轻松集成到STELLARIS5和
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徕卡德国 数字光片显微镜 STELLARIS DLSLeica stellaris-dls
数字光片系统(DLS)采用垂直设计,可以集成到STELLARIS5和STELLARIS8系统中,也可以作为两种系统的升级。这样,您就可以受益于完整功能的共聚焦和易于使用的光片显微镜,从而能够进行更多
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SurPASS 3安东帕Zeta电位 不同低聚糖铁纳米颗粒的DLS、ELS和SAXS表征
点击查看下载SurPASS 3安东帕Zeta电位 不同低聚糖铁纳米颗粒的DLS、ELS和SAXS表征相关资料,进一步了解产品。 DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术,能够分别表征颗粒的粒径分布及
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Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°(DLS)
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安东帕Litesizer 100纳米粒度分析仪 测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸
只需按下按钮即可进行颗粒分析 Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。
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Colloid Metrix(CMX)激光粒度仪Colloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°(DLS)
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激光粒度仪NANO-flex IIColloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°(DLS)
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