-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 晶圆缺陷自动检测应用
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 沟槽测量
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本
提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的平坦度测量。亚
-
AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于电子/半导体
设计,组合系统提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的
-
Park NX-WaferAFM及扫描探针Park原子力显微镜 应用于纳米材料
提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的平坦度测量。亚
-
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料
系统提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的平坦度测量
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferAFM及扫描探针 AFM干货分享:原子力探针显微术基础及其研究进展
的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的平坦度测量。亚埃级表面粗糙度控制半导体供应商正在开发超平坦晶圆,以解决
-
AFM及扫描探针帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜 课件讲义
-
Park NX-WaferPark原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于微生物
的平台设计,组合系统提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和
-
Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于分子生物学
设计,组合系统提供非常平坦的轮廓扫描,并且一般在每次测量之后不需要复杂的背景去除或前处理。Park NX-Wafer实现了前所未有的CMP测量,包括凹陷、侵蚀和边缘过度侵蚀(EOE)的局部和全局的
-
1.
质谱盛会西安开幕:汇聚全球智慧 共绘质谱新章
-
2.
美国将37个中国实体列入“黑名单” 含一所高校 多家科研院所
-
3.
沃特世大刀阔斧谱新章 多款高端液质全面中国造
-
4.
安益谱“发射”Cassitrap 让每家实验室都能拥有超高分辨质谱
-
5.
2024年1-4月离子色谱中标盘点,龙头品牌占半壁江山
-
6.
第八届华人质谱研讨会 展现科研新趋势
-
7.
重磅!骆初平出任月旭科技总经理
-
8.
1-4月气相色谱中标盘点:两家色谱巨头齐头并进 国产占到26%
-
9.
国办印发《关于创新完善体制机制 推动招标投标市场规范健康发展的意见》
-
10.
国产液相色谱龙头依利特再获亿元A+轮融资,年内已获两轮超亿元投资
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net