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XRF镀层测厚仪FT230
概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己,使得
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XRF镀层测厚仪FT210
有效地 "设置 "自己,使得在过程中可以分析更多的零件。自动化和创新软件是 FT230 和 FT210 分析仪的特点。智能识别模块,如Find My Part™(查找我的样品),意味着操作者只需装载
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FT230用于镀层分析的全自动XRF
FT230台式XRF分析仪元件范围Al (13) - U (92)探测器硅漂移SDD检测器腔室设计开槽或已关闭XY舞台设计电动或固定XY 载物台行程250 x 200 毫米电动 Z 轴行程
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德国Phystech深能级瞬态谱仪
能级瞬态谱仪FT230具有无法比拟的能量分辨率。 德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230特点l 自动接触检查l 常规测试和加强软件l 自动电容
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德国Phystech深能级瞬态谱仪
、多指数瞬态拟合、ITS(等温瞬态光谱)信号重叠法、温度扫描信号重叠法(重折叠)。与其他系统相比, 深能级瞬态谱仪FT230具有无法比拟的能量分辨率。 德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230
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