-
Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs
-
Joule Yacht 薄膜热电参数测试系统 MRS
薄膜热电参数测试系统产品特点 ● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 ● 测试环境温度范围达到81K~700K。 ● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量
-
Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA
光功率热分析仪产品特点 嘉仪通科技研发的光功热分析仪OPA是台纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白!不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的
-
Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-RT
薄膜热导率测试系统产品特点 ● 不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率,微伏级电压值,保证测量结果的高精确度
-
Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-HT
薄膜热导率测试系统产品特点 ● 不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率,微伏级电压值,保证测量结果的高精确度
-
Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3
-
Joule Yacht 薄膜变温电阻测试仪 TRT
薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量
-
Joule Yacht 相变温度分析仪 PCA-1200
相变温度分析仪产品特点 PCA根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成反射光功率与温度变化曲线,从而确定相变
-
Joule Yacht 热膨胀系数分析仪 TEA-1200
TEA采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。热膨胀系数分析仪独特技术l 自主知识产权产品,拥有
-
Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net