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Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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AZtecFeature扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — 可检测Semiconductor
引擎,使得颗粒物分析系统的速度及准确性大大提高。亮点:SEM中颗粒物自动分析系统 — 启动简单,几秒内出结果可分析样品中超过200,000的纳米尺度颗粒自带阈值,自带分类方法,自带安装导航多探测器可有
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SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature扫描电镜 可检测Polymer
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析
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扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature 可检测Materials
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymer Materials的检测。可以用在纳米材料行业领域中的
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扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature 可检测Pollutant
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可用于测定Pollutant Particles,适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford
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SEM专用颗粒物分析系统 — 牛津仪器扫描电镜 可检测Microstructure
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Microstructure and Mechanical
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牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — 扫描电镜 可检测Metals
特征依据之前Mapping数据,做重构,二次提取颗粒信息AZtecFeature在不同的专业领域有不同的应用:1. 刑侦领域:AZtecGSR枪击残留物分析AZtecGSR能在SEM中快速而准确地进行
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扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — 牛津仪器 可检测Can
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SEM专用颗粒物分析系统 — 牛津仪器扫描电镜 可检测Semiconductors
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power
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