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MCR粉末流动安东帕 粉末单元测量粉末结块行为
点击查看下载MCR粉末流动安东帕 粉末单元测量粉末结块行为相关资料,进一步了解产品。 粉体在存储过程中的结块行为限制了其流动运输性能,而本应用报告以安东帕粉末测量单元为基础,提供了一种便捷可行以及可
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有
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Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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赛默飞 Apreo 2 SEM超高分辨场发射扫描电子显微镜 粉末分析
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更加专注于研究本身。
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粉体流变仪粉末流动MCR 非导电粉末静电特性的测量
点击查看下载粉体流变仪粉末流动MCR 非导电粉末静电特性的测量相关资料,进一步了解产品。 粉末通常通过气动输送、雾化或其他机械运动产生应力,这些机械运动会导致粉末颗粒产生静电。这些过程可以在安东帕的
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(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本
点击查看下载(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料,进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测关键细节
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Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料,进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高
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