TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM, 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性,具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。
Mönch 4107是一个用于STEM,可以实现前所未有的信噪比和高的光谱分辨率阴极发光检测器。它可以帮助研究人员实现对单个纳米粒子,量子点或原子缺陷测量进行超高分辨率的图像和高光谱图谱的检测。当您使用STEM进行阴极荧光光谱的探测,能够zei短的时间内达到所需的信噪比是至关重要的,这样您才可以在短
Pharos STEM 电子显微镜,利用 FEG 高亮度电子源,可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网,实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像,并支持自定义选择成像
配备集成16通道前置放大器,用于读取探测器的每个通道,且能够保证都具有很好质量
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。 传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳
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