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安东帕PoreMaster压汞仪 介孔的孔分布测定
仪器简介: - 快速注汞法自动孔径和孔体积分布分析仪。 - 孔径安全测量范围从大于直径1080µm到少于3nm( PoreMaster 60系列), 或5nm( PoreMaster
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压汞仪PoreMaster 介孔孔径分布的计算方法
点击查看下载压汞仪PoreMaster 介孔孔径分布的计算方法 相关资料,进一步了解产品。 由于多孔材料的复杂性,不存在统一的孔径分布计算方法。无论是采用经典方法对微、介 孔孔径分布计算,还是采用
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安东帕AutoflowBET+ 比表面 介孔孔径分布的计算方法
点击查看下载安东帕AutoflowBET+ 比表面 介孔孔径分布的计算方法 相关资料,进一步了解产品。 由于多孔材料的复杂性,不存在统一的孔径分布计算方法。无论是采用经典方法对微、介 孔孔径分布计算
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Autosorb-iQ安东帕比表面 介孔孔径分布的计算方法
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小角X-射线散射仪安东帕安东帕SAXSpace 可检测介孔材料
安东帕X射线散射仪安东帕SAXSpace适用于内部孔洞表征项目,参考多项行业标准。可以检测介孔材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 有巨大内表面的多孔材料通常被用来制备催化剂、分子筛、吸附剂和
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SAXSess mc^2小角X-射线散射仪安东帕 可检测介孔材料
安东帕小角X-射线散射仪SAXSess mc^2参考多项行业标准。完成介孔材料的检测。可以用在纳米材料行业领域中的内部孔洞表征项目。 有巨大内表面的多孔材料通常被用来制备催化剂、分子筛、吸附剂和很多
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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比表面BELSORP MR1麦奇克拜尔 可检测介孔材料
麦奇克拜尔比表面BELSORP MR1可用于测定介孔材料,适用于分析介孔材料的孔径分布项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/429
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 小角X-射线散射测试介孔材料内部孔洞
安东帕小角X-射线散射仪SAXSess mc^2参考多项行业标准。完成介孔材料的检测。可以用在纳米材料行业领域中的内部孔洞表征项目。 有巨大内表面的多孔材料通常被用来制备催化剂、分子筛、吸附剂和很多
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