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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器 强大低能端分析
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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低能离子散射谱LEIS QtacQtac 100IONTOF 型 低能(LEIS) 产品彩页 中文
点击查看下载 低能离子散射谱LEIS QtacQtac 100IONTOF 型 低能(LEIS) 产品彩页 中文相关资料,进一步了解产品。 催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱
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安捷伦7250气质 使用具有低能量 EI 的 GC/Q-TOF 检测肺结核感染的小鼠的肺部代谢变化
相色谱分析的化合物鉴定、定量和研究提供全谱、高分辨率的精确质量数据。电子轰击离子源具有低能量 EI 功能。 通过高分辨率的精确数据结果和高灵敏度检测鉴定化合物。在广泛的动态范围内准确定量分析物,同时
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IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac
低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱(Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品
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Agilent 气相色谱系统安捷伦7890B 使用具有低能量 EI 的 GC/Q-TOF 检测肺结核感染的小鼠的肺部代谢变化
安捷伦Agilent 气相色谱系统7890B可用于测定感染肺结核的小鼠肺组织,适用于代谢产物项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 具备集成智能功能的 Agilent 7890B 气相
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于生物材料性能研究
低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段,例如XPS 、 AES ,它最大的特点是可以把信息深度缩小到单原子层厚度。配合上深度剖析
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 与多种生长设备集成
低能离子散射谱(Low-Energy Ion Scattering ,LEIS)[1]利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论,散射离子的能量分布
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气质安捷伦7250 使用高分辨率 7250 GC/Q-TOF 通过负离子化学电离 (CI) 和低能量 EI 分析短链氯化石蜡 (SCCP)
联用系统具有广泛的动态范围,可为适用于气相色谱分析的化合物鉴定、定量和研究提供全谱、高分辨率的精确质量数据。电子轰击离子源具有低能量 EI 功能。 通过高分辨率的精确数据结果和高灵敏度检测鉴定化合物
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于分析粗糙表面材料分析
低能离子散射谱法(low energy ion scattering spectroscopy,LEIS)是2016年公布的化学名词。低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层
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Horizen 24 单杆LC-MS用氮气发生器具有低能耗和热输出,节能环保
随着需求的增长,Peak着手于设计与制造市场上最节能,同时也是同类产品中体积最小的氮气发生器。Horizen 24的能耗减少了50%以上,为实验室节省电力消耗的同时,热输出也减少了55%。与钢瓶和同类
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