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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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光学型轮廓仪
SJ5900粗糙度轮廓仪一体机专业为非球面镜片的大曲面测试,该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测.
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光学轮廓仪WIVS-I
是国内市场上的主要产品。6JA干涉显微难以满足科技不断发展的需要。不过在它基础上发展起来的垂直扫描干涉显微镜近年来得到广泛的应用。如美国VEECO公司的Wyko NT系列光学轮廓仪
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三维光学轮廓仪ContourSP
结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的
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三维光学轮廓仪NPFLEX
特征。一个突破性的开放式龙门设计提供了超过300度的访问,以前无法访问或太难分析,因为大小或部分的方向。目标下方有13英寸(330毫米)的空间,很容易到达其他类型的轮廓仪无法到达的部分区域。自定义配置
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光学3D表面轮廓仪
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白光干涉三维光学轮廓仪
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三维光学轮廓仪CONTEBGT-X
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计,这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全
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三维光学轮廓仪Contracx-100
Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能,在一个流线型封装,融合了几十年的专利布鲁克
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三维光学轮廓仪Contour Elite X
完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力,在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作
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