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半导体检测仪卓立汉光
产品概述说明:此系统是卓立汉光发布的用于对半导体晶圆进行微操作和检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆夹持单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配备了完整的运动控制系统和机器
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半导体检测仪卓立汉光
产品名称:半导体晶圆微操作、检验通用开发平台产品描述:此系统是卓立汉光推出的用于微操作和检验半导体晶圆的通用开发平台。系统包括半导体晶圆的装夹单元、对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配备完整
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半导体晶圆微操作、检验设备卓立汉光
产品概述说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域
卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域
卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统 应用于光电半导体领域
卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统 应用于光电半导体领域荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…,每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下,大部分电子处在*低能态即基态S0 的
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热量计耐驰 应用于电子/半导体
耐驰热量计绝热加速量热仪 ARC 254用于测定柴油,符合行业标准圆派科学仪器。适用柴油的高压氧化反应项目。 绝热加速量热仪 ARC 254产品规格下载性能与优点ARC254 的*快绝热跟踪速率
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