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HemiView数字植物冠层分析系统
HemiView数字植物冠层分析系统名称:数字植物冠层分析系统 型号:HemiView 产地:英国用途:HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取
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AccuPAR LP-80植物冠层分析仪
AccuPAR LP-80植物冠层分析仪名称:植物冠层分析仪 型号:AccuPAR LP-80 产地:美国用途:AccuPAR LP-80植物冠层分析仪可以测量评估
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安捷伦8700红外 适用于聚合物层
安捷伦红外8700可用于测定包装材料,适用于聚合物层项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于高分子材料行业领域。 Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统——清晰的化学成像和理想的分析
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安捷伦4300红外 适用于三层体系分析
安捷伦红外4300可以用在多个行业领域,用来检测现代镀膜,可完成三层体系分析项目。符合多项行业标准。 产品特性:● 主要应用领域:高校科研、光学材料生产● 高级材料的无损检测● 采用人体工程学设计
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半导体检测仪原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀
点击查看下载半导体检测仪原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀
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冠层分析系统
技术参数:工作环境:0℃~60℃,相对湿度0~100%RH(没有水汽凝结)贮藏环境:-10℃~80℃,相对湿度0~40%RH电源:8~12VDC光源:LED中心波长:680nm、800nm光谱带宽
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冠测粉尘层电阻率测试仪其它行业专用 标准
冠测粉尘层电阻率测试仪其它行业专用 标准有特定规范与标准,应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 粉尘层电阻率测定仪GEST-126T满足标准:GB/T 12476.9-2010
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冠测粉尘层电阻率测定方法GEST-126T 标准
冠测粉尘层电阻率测定方法GEST-126T 标准有特定规范与标准,应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 粉尘层电阻率测定仪GEST-126T满足标准:GB/T
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芯硅谷 3D立体活性炭口罩(四层)
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牛津仪器PlasmaPro 100 ALE原子层刻蚀
我们的设备和工艺已通过充分验证,正常运转时间可达90%以上,一旦设备安装完毕,可立即投入使用。PlasmaPro 100系列市场应用广,包括但不限于: MEMS和传感器、光电子、分立元器件和纳米技术。
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