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赛默飞(原FEI)Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)
新一代 Thermo Scientific™ Krios™ G4冷冻透射电镜Cryo-TEM是该系列产品中设计最紧凑的。通过对机械底座框架和设备外壳的全新设计,该款设备净身高缩短至3 m以内,适用于
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日本电子JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜
JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品
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日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪
IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤产品特点:带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备
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日本电子JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜 冷场发射电子枪
样品,在取出和更换一个或几个样品的同时,其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。◇ 冷场发射电子枪冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的电子束,CRYO ARMTM 200能够获得高分辨、高衬度
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电子物证室冷藏冷冻冰箱
电子物证室冷藏冷冻冰箱 北京福意电器有限公司与时俱进,奋发图强,历经十余载的不懈努力,在力量、加工设备、工艺水平、能力及检测手段上得到了长足发展,已形成化、系列化。福意联企业的各类产品均具备。企业
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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Spex SamplePrep 6875/6875A 冷冻研磨仪 用于电子元件样品
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冷冻断裂、冷冻蚀刻和电子束镀膜设备徕卡电镜制样 应用于电子/半导体
EM VCT500穿梭工具,标本可在理想条件下与仪器实现来回转移,以便在冷冻SEM中进行*终检查。 仅仅数小时即可获得高分辨率的图像。电子束源、样品架和刀具都有相应的真空锁,以便快速处理样品无需花时间
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日本电子JEM-3300原子分辨率冷冻透射电镜
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岛津电子探针EPMA电子探针 应用于电子/半导体
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列可以用在电子/半导体行业领域,用来检测通信光纤 ,可完成EPMA测试项目。符合多项行业标准。 光纤即光导纤维(Optical Fiber),是以光脉冲的形式
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