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岛津电子探针EPMA-1720系列用于测定 玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试
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堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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