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SPM-Nanoa 原子力显微镜
原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微镜到SPM/AFM,各模式下均可清晰地捕捉图像利用光学显微镜搜索目标
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安捷伦5500LS原子力显微镜
技术参数: 大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size
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AFM及扫描探针 原子力显微镜岛津
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时,自动观察模式操作只需5分钟。扫描范围为1um×1um,256×256点阵。操作时长取决于操作者。传统的原子力显微镜需要
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安捷伦5500 LS大样品台原子力显微镜
大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm
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Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX10 应用于地矿/有色金属
行业内噪声最低的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号,全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。如果Z轴探测器的噪声过高,用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子
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Park NX20帕克 NX20 原子力显微镜Park原子力显微镜 适用于.
Park原子力显微镜帕克 NX20 原子力显微镜Park NX20用于测定.,符合行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
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Park原子力显微镜AFM及扫描探针帕克 NX20 原子力显微镜 应用于地矿/有色金属
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX20可用于测定.,适用于.项目。并且参考多项行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
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Park原子力显微镜Park NX20AFM及扫描探针 应用于纳米材料
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX20适用于.项目,参考多项行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
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AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX20 原子力显微镜 应用于高分子材料
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX20用于测定.,符合行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
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帕克 NX20 原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX20 应用于电池/锂电池
Park原子力显微镜帕克 NX20 原子力显微镜Park NX20可用于测定.,适用于.项目。并且参考多项行业标准https://siliconsemiconductor.net/article
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