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安东帕NST³纳米划痕仪 分析无机涂层
划痕后可用多次后扫描模式评估弹性性能划痕后,您可以在软件中用时间增量定义无限次后扫描测量残余位移。这种全新的分析方法将让您进一步了解表面变形性能与时间的依赖关系。施加较小的载荷时具有极快的响应时间纳米
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MidiLab9000-E 无机元素在线分析系统
MidiLab9000-E重金属在线分析系统采用样品消解模块,搭配全自动液体样本制备系统,与质谱、光谱分析方法相结合,通过小莱AI机器人,实现从样品消解到分析检测全流程自动化,让分析检测更准确、更快速
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梅特勒托利多 原位FTIR ReactIR 702L固态冷却技术
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微波消解系统Multiwave GO Plus微波消解 可检测(无机)a
安东帕微波消解Multiwave GO Plus参考多项行业标准暂无。完成沐浴油, 面霜a,面霜a ,甘油 ,口红,云母a,珍珠a ,颜料,(无机)a,肥皂,滑石粉a,二氧化钛a,尿素,氧化锌a的
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安东帕NST³纳米划痕仪 分析有机和无机涂层
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梅特勒托利多卡尔费休水分仪 测定固态样品水分含量
含量。 优化的滴定杯可以保持很低的漂移值,可以测定液态、固态和气态样品的水分含量。专家型针对微量水分的样品在溶液中通过电解电极的电解产生碘,而非采用滴定管添加的方式,准确度和精确度则会进一步提升
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安东帕MST³微米划痕仪 分析有机和无机软质涂层
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液质LCMS-8050岛津 适用于无机阴离子
岛津液质LCMS-8050用于测定环境水 ,符合行业标准《DB 32/T 4004-2021 水质 17种全氟化合物的测定高效液相色谱串联质谱法》。适用无机阴离子 项目。 本实验使用岛津
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ICS-5000+ HPIC高压系统离子色谱 测定无机阴离子
点击查看下载ICS-5000+ HPIC高压系统离子色谱 测定无机阴离子相关资料,进一步了解产品。 ICS-5000+高压离子色谱Thermo Scientific Dionex
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ICP-MSAgilent 8900 安捷伦 安捷伦半导体无机元素分析概览
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体,适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体
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