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俄歇电子能谱 AES
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俄歇电子能谱仪(AES)
产品介绍: •产品名称:俄歇电子能谱仪(AES) •产品型号:AER-200 •品 牌:日美纳米表面分析仪器公司(U-P) •产 地:日本 产品参数
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俄歇电子能谱 AES
服务详情俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+
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X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+岛津 可检测石墨烯薄膜
传输器、催化反应池等)和可拓展多种表面分析技术,如紫外光电子能谱(UPS),离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜(AES和SAM)等等AXIS
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AXIS SUPRA+岛津/Kratos X射线光电子能谱仪 适用于厚度
功能附件(惰性气体传输器、催化反应池等)和可拓展多种表面分析技术,如紫外光电子能谱(UPS),离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜(AES和SAM
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
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/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+岛津 可检测膜材料
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 适用于其他
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AXIS SUPRA+/Kratos X射线光电子能谱仪岛津 不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
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